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请问各位,知道怎么用阻抗分析仪测压电厚膜的介电常数吗,测C-F曲线,转化为介电常数,测电容,再根据平板电容器公式转换为介电常数
测试很简单,用探针台接上你的样品上下电极,再将探针台连在阻抗分析仪上,扫频即可
计算的前提是你得知道电极
2015年08月26日发布人:yazi
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不同的测厚设备有不同的原理, X荧光测膜厚的原理是什么呢? 能简单说说吗?,XRF测量金属薄膜厚度的原理是利用X射线的能量激发样品中的金属元素使它产生特征X射线荧光,通过检测器检测到荧光的强度来计算金属镀层的厚度。具有非破坏,快速简便的
2014年08月29日发布人:ass
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请问各位,知道怎么用阻抗分析仪测压电厚膜的介电常数吗,测C-F曲线,转化为介电常数,测电容,再根据平板电容器公式转换为介电常数
测试很简单,用探针台接上你的样品上下电极,再将探针台连在阻抗分析仪上,扫频即可
计算的前提是你得知道电极
2015年08月14日发布人:女儿情
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火焰原子吸收法,北京普析AAS-990F仪器,镍总觉测得不准,不知道怎么回事。
我想问一下大家的测定参数是多少,我的是:狭缝0.4,燃气流量2000,空压机分压0.26,乙炔分压0.05
(测Ni的燃气流量仪器默认值是1300,火焰
2011年11月04日发布人:chen389988
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距离有关吧,不知是否准确,看一下说明书, 里面应该有个线形图, 可根据时间和电流来决定膜厚,日立工程师胡扯,大该在3-4nm,电流越大,溅射下来的金颗粒越大,在同样的时间下就越厚。,时间长厚;
电流大,PT的颗粒大;
一般超过5nm你怎么分析啊?,和你的电压电流以及时
2009年10月29日发布人:风大
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最近高效液相purge时压力很高,流速根本不能调到5ml/min. 我把白色滤头取下来,然后purge,压力依然非常高,流速不能超过2ml/min.这样是不是可以排除由于滤头污染引起的压力升高呢???那么,又是因为其他什么原因呢??其实
2011年08月15日发布人:lxycxf
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请问Hach 哈希COD预制试剂管能承受的压力大概多大,如果用这个管做一些150度左右的生物质水解的实验可以么?会不会炸开。
如果用厚壁耐压瓶能否承受压力?,150度肯定没问题啊,试试吧!!,因为要做生物质水解方面的实验,有文献说用的厚
2015年04月03日发布人:舞疯
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不同的测厚设备有不同的原理, X荧光测膜厚的原理是什么呢? 能简单说说吗?,XRF测量金属薄膜厚度的原理是利用X射线的能量激发样品中的金属元素使它产生特征X射线荧光,通过检测器检测到荧光的强度来计算金属镀层的厚度。具有非破坏,快速简便的
2015年02月01日发布人:vbnm
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请教 多厚的铜能够屏蔽住x射线 假设管电压为60Kv 不知道我说的明白不 意思就是多厚的铜能够挡住X射线 使X射线无法穿透! 很急!多谢!,具体多厚还真注意过,但从仪器内部的铜板铅板来看,应该有20-30公分,管电压在60kV的话,穿透
2015年11月26日发布人:熊猫
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ICP测定铁矿石中的Ca,Mg效果如何?这个不知道大家做过没有!,很多地质的都是用ICP来测的。云老师用ICP测定铁矿石中这两种元素有遇到什么困难吗?,太低的时候波动性大,也不知道是否空白带入的。,在溶液中的浓度大概多大?,约50PPM
2012年04月28日发布人:xiaoweiwe121